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機電產(chǎn)品國際招標中標通知書項目編號：1495-234thhrlab02/0l束蘊香港有限公司：北京懷柔實驗室2023年第二批科研設備采購項目，采購方式：國際公開招標，千2023年06月08日開標，評標工作已結束。根據(jù)評標委員會的評審結果，對推薦的中標候選人進行了公示，公示期已結束，經(jīng)招標采購工作領導小組確認，在項目編號：1495-234thhrlab02/01(產(chǎn)品名稱：少子壽命測試儀）的投標中，貴公司被確認中標，中標金額為XXXXX歐元。請貴公司在收到本中標通知書后，攜帶所...

—用于快速準確的半導體質量控制和分析的新型生產(chǎn)車間工具分析半導體從晶圓到終端器件的狀態(tài)被認為是高難度的工作，很少有分析設備可以直接用作生產(chǎn)中材料質量好壞的“裁決者”。--表面光電壓技術新品亮相德國FreibergInstruments全新的高分辨率表面光電壓光譜(HR-SPS)是一個真正的生產(chǎn)型設備，因為它在不影響工藝產(chǎn)出速度的情況下完成工作。HR-SPS檢查生產(chǎn)中使用的材料的關鍵良率參數(shù)-無論是硅、碳化硅還是其他半導體或光活性材料。產(chǎn)品介紹HR-SPS設備測量材料在一個或多...

全球-PHIGENESIS在近期已到達束蘊儀器（上海）有限公司的倫琴實驗室并完成安裝調試。倫琴實驗室是國內專業(yè)從事X射線相關分析與開發(fā)的機構，提供多方位的X射線測試服務，以廠家應用實驗室標準配置了新型設備。針對復雜材料和器件完成從晶體結構到電子結構的完善解析，以及從埃米到毫米的跨尺度表征。束蘊儀器的測試團隊由應用專家領導，同時與Bruker，ULVAC-PHI等儀器制造商為深度合作伙伴。ULVAC-PHI于2022年7月推出了具備有多功能平臺的X射線光電子能譜儀（XPS）-P...

半導體元器件是現(xiàn)代電子技術中最為重要的組成部分之一。它們通過控制電流和電壓來實現(xiàn)信息的處理和傳輸，被廣泛應用于計算機、通信、醫(yī)療、能源等領域。CT-半導體元器件主要包括二極管、三極管、場效應管、集成電路等。其中，二極管是Z簡單的半導體元器件，它由P型和N型半導體構成，具有單向導電性質。在電路中，二極管可用于整流、限流、穩(wěn)壓等方面。三極管則由P型、N型半導體以及中間的控制區(qū)組成，可以放大或開關電路。場效應管則是一種控制電流的元器件，其特點是輸入電阻高、噪聲低，適用于高頻電路。集...

電子自旋共振波譜儀(ElectronSpinResonanceSpectrometer,ESR)是一種分析物質中未成對電子的技術。它利用電子在磁場中的行為來測量樣品中的未成對電子數(shù)量、結構和動力學。在一個ESR實驗中，樣品被置于一個恒定的強磁場中，然后通過向樣品施加微波或射頻輻射來激發(fā)未成對電子的自旋。當微波或射頻能量與未成對電子的自旋相互作用時，能量將被吸收，導致樣品中未成對電子的自旋狀態(tài)發(fā)生變化。通過在吸收能量時記錄所施加的微波或射頻輻射的頻率，可以獲得有關未成對電子的信...

高分辨X射線顯微鏡是X射線成像術的一種，也是顯微成像技術，即將微觀的、肉眼無法分辨看出的結構、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X射線成像的襯度原理、設備的構造與主要組成部件(如X射線源、探測器等)，但主要是從宏觀物體的成像(如人體器管的醫(yī)學成像、機械制品的缺陷探傷、機場車站的安全檢查等)出發(fā)的。宏觀成像與微觀成像有相通之處，如襯度原理、設備的主要組成部件等，但也有區(qū)別。高分辨X射線顯微鏡的成像原理與光學顯微鏡基本上是一樣的，遵從幾何光學原理，其關鍵部件是成像和放大作用的光學元...

X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測對象為單晶體試樣，主要用于確定未知晶體材料的晶體結構?；驹恚涸谝涣尉w中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會發(fā)生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結構。X射線衍射儀結構組成：(1)X射線發(fā)生器——產(chǎn)生X射線的裝置;X射線發(fā)生器由X射線管、高壓發(fā)生器、管壓和管流穩(wěn)定電路以及各種保護電路等部分組成?，F(xiàn)代衍射用的X射線管都屬于熱電子管，有密封式...

熒光光譜儀是通過X射線管產(chǎn)生的X射線作為激光源，激發(fā)光源激發(fā)樣品產(chǎn)生X熒光射線。根據(jù)熒光X射線的波長和強度來確定樣品的化學組成。作為一種質量檢測手段，光譜儀在我國各行各業(yè)應用越來越廣泛。研究光譜儀在分析過程中的誤差，提高儀器的分析準確度成為重要的課題。熒光分析過程中產(chǎn)生誤差的原因主要有操作方面、儀器方面、以及試樣本身等三方面因素。一、在熒光光譜儀分析中操作方面帶來誤差的因素：1、在光譜儀分析制樣過程中，粉磨時未設定好粉磨時間和壓力，達不到要求的粉磨粒度或相應的料度分布。實驗表...